BLASE系列纳米颗粒和纳米气泡测量装置 薄片激光技术实现了大视野成像，对比传统装置将观测视野扩大至275倍，即使在低浓度范围(1万～1000万个/ml)下，仍可实现稳定观测与精确测量。其中BLASE X型号可实现数量浓度高达10亿个/ml的测量(10万个～10亿个/ml)。

核心优势1：自主研发的薄片激光技术实现了大视野成像，对比传统装置将观测视野扩大至275倍，即使在低浓度范围(1万～1000万个/ml)下，仍可实现稳定观测与精确测量。其中BLASE X型号可实现数量浓度高达10亿个/ml的测量(10万个～10亿个/ml)。

核心优势2：利用区域划分算法，将大视野分割为多个观测区域同时测量，获取多个平行样本数据，可精确评估气泡粒径的分布均匀性。

BLASE系列纳米颗粒和纳米气泡测量装置

一、BLASE系列装置介绍

二、产品的技术优势

三、大视野成像

1、观测视野的差异

2、低浓度粒子测量

PSL标准粒子100nm 1㎖　1.8×10⁵(10万个)的拍摄画面

3、中～高浓度粒子测量

PSL标准粒子100nm 1㎖　2×10⁷(2000万个)的拍摄画面

四、多区域观测

五、ＦＢＩＡ(日本微纳米气泡产业会)标准

六、纳米气泡测量的比色皿

七、纳米气泡测量过程

1、数量浓度的测量画面

2、粒径的测量方法

3、粒径的测量画面

4、测量数据报告

八、售后服务解决方案

1、安装调试与培训

- 专业人员安装调试，确保设备最佳运行状态。

- 提供全面的设备操作及维护保养培训。

2、服务响应时效

- 7*12小时提供咨询、售后热线服务。

- 1小时内极速响应，48小时内远程诊断故障，72小时内出具故障修复方案。

3、设备维修服务

- 软件：实施远程修复故障及系统升级。

- 硬件：上门维修或返厂维修或更换硬件（耗材除外）。

- 质保期内免费维修服务，终身技术支持。

九、认证与奖项

1、FBIA：纳米气泡测量装置Lab认证